从半导体设备角度来看老化的风险
10/17/2024, 01:00 PM UTC
半导体设备老化带来的风险The Perils of Aging, From a Semiconductor Device Perspective
➀ 对英特尔13代和14代处理器近期问题的分析；➁ 确定根本原因为Vmin偏移不稳定问题；➂ 精确分析工具在防止老化退化中的重要性。➀ An analysis of the recent issues with Intel's 13th and 14th Gen processors; ➁ Root cause identified as Vmin Shift Instability; ➂ Importance of precise analysis tools in preventing aging degradation.随着我们年龄的增长，我们都会意识到老化带来的挑战。从半导体设备物理学的角度来看，老化过程也有其挑战。本文将探讨英特尔13代和14代处理器近期出现的问题，分析其根本原因，并探讨如何通过精确的分析工具来预防类似问题的发生。
英特尔近期推出的13代和14代“Raptor Lake”核心处理器出现了稳定性问题，导致许多桌面用户担忧。经过大量分析和代码更新，英特尔发现问题的根源在于IA核心中的时钟树电路，在高温高压下特别容易受到可靠性老化的影响。
为了避免类似问题，设计过程中使用精确的高分辨率分析工具至关重要。Infinisim的ClockEdge®解决方案通过模拟时钟信号因NBTI和HCI等因素随时间退化， 帮助设计师预测信号退化并减轻其影响，从而有效延长高性能时钟的运行寿命。
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本文由大语言模型（LLM）生成，旨在为读者提供半导体新闻内容的知识扩展（Beta）。
