在数字电路设计领域，扫描链（Scan Chain）和自动测试向量生成（ATPG）技术已成熟应用数十年，但SoC中模拟模块的测试仍依赖耗时数月的手动调试。西门子EDA近日发布的Tessent AnalogTest工具，首次将数字化DFT理念引入模拟测试领域，标志着模拟验证进入自动化新纪元。

该方案核心在于突破性的缺陷建模技术：通过IEEE P2427标准定义的标准化缺陷库，工具可自动在SPICE网表中注入缺陷并仿真，精确计算检测覆盖率。实际测试中，工程师仅需用过程描述语言（PDL）编写高阶测试指令，如"在引脚施加2.5V电压，测量另一引脚电流"，系统即可自动生成测试平台，调用AFS或Symphony仿真器进行缺陷检测。

尤值关注的是其与IJTAG架构的深度整合。通过扩展IEEE P1687.2标准，Tessent AnalogTest实现了模拟测试接入的硬件抽象化，使数字测试设备能够以＜1ms的速度完成多数模拟电路测试。这在车载芯片等安全关键领域意义重大——ISO 26262要求的功能安全验证，现在可通过自动化流程获得可重复的测试结果。

据实测数据，该方案使测试开发周期缩短70%，工程团队可快速迭代优化缺陷覆盖率。对于含数百个模拟IP的先进制程芯片，这种结构化的测试方法将显著降低量产前的验证风险。随着3D IC和Chiplet技术的普及，这种跨模块的标准化测试方案或将成为下一代芯片设计的必备基础设施。