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  • 设计工艺协同优化(DTCO)加速埃米级工艺技术的上市准备

    semiwiki

    05/28/2025, 05:00 PM UTC

    ➀ 设计工艺协同优化(DTCO)已从被动调整发展为预测性策略,助力工艺与设计的并行开发,如新思科技与英特尔在18A工艺上的合作;

    ➁ 通过优化英特尔的RibbonFET晶体管架构和PowerVia背面供电技术,设计效率和能效显著提升;

    ➂ 新思科技提出PICO框架,覆盖工艺、IP、EDA工具的全面协同优化,确保埃米级节点的快速、低风险产品开发。

    随着半导体制程进入埃米(Å)时代,设计工艺协同优化(DTCO)已从早期的被动适配发展为系统化的战略工具。新思科技(Synopsys)与英特尔(Intel)的深度合作验证了DTCO的潜力:双方在Intel 18A工艺节点上提前一年完成测试芯片流片,展示了从工艺建模到工具链验证的闭环协同效果。

    这一成果的核心在于DTCO的三大突破:首先,新思科技的设计工具与英特尔的RibbonFET晶体管架构深度整合,大幅缩短时序收敛周期。其次,通过PowerVia背面供电系统的协同优化,IR压降管理和版图重构使能效显著提升。此外,新思科技提出的PICO(Process-IP-Co-Optimization)框架将协同范围扩展至TCAD仿真、IP架构和3DIC封装研究,形成覆盖晶体管到工具的完整开发流程。

    值得注意的是,DTCO的「启用就绪周期」确保了英特尔18A工艺在流片前即完成EDA工具验证和IP库认证,使设计团队能够更早开展硅前验证。这种范式转变不仅降低先进制程的开发风险,更为2纳米以下节点的异构集成铺平道路。行业的这一演进表明,埃米级芯片的竞争已从单一工艺突破转向生态系统协同效能。

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    本文由大语言模型(LLM)生成,旨在为读者提供半导体新闻内容的知识扩展(Beta)。

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