EUMETRYS CEO揭示半导体检测技术创新：如何年省百亿美元成本
06/25/2025, 05:00 PM UTC
专访EUMETRYS首席执行官Yannick Bedin：半导体制造中的检测与计量解决方案CEO Interview with Yannick Bedin of Eumetrys
➀ EUMETRYS作为全球半导体检测计量解决方案供应商，致力于解决因晶圆缺陷导致的年损失100-200亿美元问题，为航空航天、汽车等关键领域提供质量控制保障；
➁ 公司通过提供设备、集成服务及定制化支持的一站式解决方案形成差异化优势，并与日本YGK合作推出针对化合物半导体的高精度检测设备YPI-Clear Scanner；
➂ EUMETRYS建议晶圆厂根据生产规模优化检测资源配置，并计划于2024年7月推出新的配套服务。
➀ EUMETRYS is a global integrator providing turnkey metrology, inspection, and robotics solutions to address semiconductor wafer defects costing $10-20B annually, ensuring quality control in critical industries like aerospace and automotive;
➁ The company differentiates itself through a one-stop-shop model, offering equipment, integration services, and customized support, while partnering with YGK to launch a high-precision inspection tool for compound semiconductors;
➂ EUMETRYS advises fabs to optimize metrology investments based on production scale and plans to expand its product lineup by July 2024.
法国半导体设备集成商EUMETRYS首席执行官Yannick Bedin在接受专访时表示，公司自2012年成立以来，已发展成为全球领先的计量、检测与自动化解决方案供应商。通过位于法国加亚克总部和格勒诺布尔运营中心，EUMETRYS为全球客户提供设备集成、技术支持和备件服务，重点解决因晶圆缺陷导致的行业年损失高达100-200亿美元难题。
在技术层面，EUMETRYS近日宣布与日本YGK达成独家合作协议，推出专为化合物半导体设计的YPI-Clear Scanner激光粒子检测系统。该设备支持2-12英寸碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）、磷化铟（InP）等多元基板检测，通过先进的光学扫描技术实现亚微米级缺陷识别，检测速度较传统设备提升40%，且价格更具竞争力。Bedin强调，该工具特别针对电动汽车和5G通信芯片制造中的质量控制盲区，可帮助客户将良品率提升3-5个百分点。
面对半导体制造商的痛点，EUMETRYS提出『精准配置』理念：建议晶圆厂根据产品设计需求选择检测设备，避免过度投资。Bedin以28nm与3nm产线对比为例，说明采用定制化检测方案可降低20-30%的运营成本。公司预计在2024年7月推出智能化设备健康监测系统，通过AI算法预测设备维护周期，进一步减少非计划停机时间。
在市场策略方面，EUMETRYS采用『技术演进+本地化服务』模式：在法国硅谷保持年均15%的研发投入增长率，同时在德国、美国设立技术服务中心，承诺4小时内响应关键设备故障。这种综合服务模式已获得欧洲三大IDM厂商的长期合作协议，预计在碳化硅功率器件检测市场占据35%份额。
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