06/11/2025, 04:48 PM UTC
非破坏性X射线成像揭开超薄层状纳米片的秘密Non-Destructive X-Ray Imaging Unlocks Secrets of Ultra-Thin Layered Nanosheets
➀ 研究人员使用12纳米级X射线光束，以非破坏性方式分析电子器件中的超薄纳米片，揭示了其形变机制；
➁ 研究发现两种相互竞争的形变机制：长程晶格失配效应和纳米片边缘短程层叠效应；
➂ 这些发现有助于优化未来纳米结构（如全环绕栅极晶体管），提升器件性能预测能力，推动微型化电子设备发展。
➀ Scientists used a 12-nanometer X-ray beam to non-destructively analyze ultra-thin nanosheets in electronics, revealing deformation mechanisms;
➁ The study identified two competing deformation mechanisms: long-range lattice mismatch and short-range layering effects near edges;
➂ These insights aid in optimizing nanostructures for next-gen microelectronics like GAAFETs, enhancing device performance prediction.
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